二手 NANOMETRICS NanoSpec II #293816399 待售

NANOMETRICS NanoSpec II
ID: 293816399
Thickness measurement system.
NANOMETRICS NanoSpec II是一種掩模和晶圓檢驗設備。它允許對半導體掩模和晶片進行快速、準確和可靠的檢查。該系統利用先進的技術,包括先進的光學和高速探測器,對掩模和晶片上的特征進行成像,從而能夠檢測任何缺陷或不符合要求的情況。該單元還提供廣泛的自動化分期和處理,這使得它極其高效和經濟高效。NanoSpec II可以處理各種各樣的半導體掩模尺寸,視野高達400mm x 400mm。它既適用於全場圖像捕獲,也適用於感興趣的區域成像。該機器能夠對晶片表面進行同步、實時的檢測,能夠快速、可靠地檢測到17nm以下的缺陷。該工具還可以精確測量矩形、圓和多邊形的幾何形狀和大小,以及驗證從文本到3D圖像的所有類型的陣列。資產還包括先進的自動化分期和處理,從而能夠進行極具效率和成本效益的檢查。這包括一個高速晶片處理程序,可以快速精確地將晶片移動到檢測站,以及自動掩碼處理以進行高效的掩碼檢查。NANOMETRICS NanoSpec II是任何半導體制造商都非常寶貴的工具。它提供了準確可靠的掩模和晶片檢查,並提供了一種高效且經濟高效的檢測缺陷的方法。憑借其先進的光學、自動分級和操控以及高速探測器,它是任何半導體測試或檢查應用的完美工具。
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