二手 NANOMETRICS SDP-2000T #9354596 待售

NANOMETRICS SDP-2000T是一種用於評估半導體掩模和晶圓幾何形狀的完整性和準確性的掩模和晶圓檢測設備。該系統可以使用光學圖像和數據采集技術對二維和三維特征進行自動測量。其長度和角度測量可實現高可重復性，提供生產線的可靠性。該單元由兩個主要模塊組成；掩模檢查檢查模塊和晶圓檢查模塊。掩碼檢查模塊包括自動對齊功能,可快速準確地測量多個掩碼。此外,它還提供晶片到掩模的對齊和叠加測量,插值可達40倍,並對隔離缺陷進行光學檢查。晶片檢查模塊能夠對平板晶片和階梯式晶片進行檢查。機器可以使用2D曲面映射技術，每平方毫米獲取40到200個數據點，這取決於設置參數。可以在用戶定義的區域中定義測量點,以便於檢索。檢查結果可自動保存到工具中,進一步作為內部數據庫處理,或導出到外部數據庫。資產還包括先進的圖像處理和過濾功能，能夠加強質量控制和進一步分析測量的模式。此外,模型還提供各種顯示模式,如立體聲或單視圖投影,以及3D立體顯示。相應的軟件也具有很高的靈活性，允許用戶定義設置，並使用戶能夠輕松自定義操作。總的來說,SDP-2000T提供了非常可靠和準確的性能,在面罩檢查和晶圓檢查.它的靈活性使其能夠輕松融入現有生產線，其先進的成像能力可以提供有關半導體件形狀和組成的準確信息。因此，該設備對質量控制應用非常有用，可確保對各種材料進行準確的測量。