二手 NANOMETRICS Sipher #293807094 待售

NANOMETRICS Sipher是一種掩模和晶片檢測設備,旨在為要求最苛刻的生產環境提供改進的晶片缺陷檢測和分類。它是一個全自動、高性能、高通量的系統，能夠檢查掩模和晶片上的物理缺陷，從粗糙的缺陷到細小的模式缺陷。它利用電子束成像提供了清晰、詳細的缺陷微觀視圖。Sipher提供了一系列功能,使其與其他檢查系統區分開來。其電子束成像（EBI）技術提供了卓越的缺陷級靈敏度和最佳對比度（CNR）。EBI通過調整其光束光斑大小、電流、加速度電壓和每個缺陷大小的暴露劑量來實現此目的。這可以通過揭示更多的缺陷以及更可重復和更好的檢測模式來優化產量分析。該單元還提供精確的陣列直徑控制功能,從而能夠更準確地檢測缺陷並進行特征描述。再者，NANOMETRICS Sipher配備了強大的缺陷顯示和分類引擎。該引擎支持自動缺陷分類,並提供快速有效的根本原因分析所需的信息。該機專為自主操作而設計，具有自動缺陷分類、分類、維修分析等功能。Sipher可輕松集成到現有基礎架構中,使用戶無需更改或添加設備即可利用其高吞吐量功能。此功能可幫助晶圓廠提高生產產量並降低成本。NANOMETRICS Sipher還具有增強的過程中審閱功能,允許用戶在最短檢查時間內做出更快的掩碼缺陷決策。此外，它的Sipher-Adaptive Dynamic Imager算法允許用戶根據自己的特定檢查任務調整成像器設置，從而獲得最大的缺陷可見性和可靠的缺陷檢測與分類。總體而言，NANOMETRICS Sipher是一種功能強大且可靠的工具，能對掩模、晶片和基板上的缺陷進行卓越的檢測和分類。其高性能、自動化的檢查功能提供了最大的準確性、吞吐量和可擴展性。這些特性使Sipher成為晶圓廠質量保證和缺陷分類的理想選擇，確保了最具挑戰性的生產環境下的最大產量和產量。