二手 NAPSON NC-3000F #9085605 待售

NAPSON NC-3000F是一種設計用於微電子和半導體行業的高度先進和可靠的掩模和晶圓檢測設備。該系統配備了場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）或普通成像選項,以便提供可用的最高分辨率成像。NC-3000F的最大分辨率可達2 µm,掃描精度可達到0.1µm線/空間,這意味著它能夠檢查極小的特征和掩蔽要求。配備了多種可調參數，有助於優化檢測過程，確保卓越的圖像質量。除了具有高分辨率成像能力外，NAPSON NC-3000F還擁有一個強大的自動晶圓檢測裝置，能夠精確獲取高達1000晶圓每秒的自動對焦圖像。該機器采用專有的Brightfield Inspection技術,可輕松識別因劃痕、汙染、光刻不完整或其他問題而產生的屈服缺陷。NC-3000F的直觀特點使其成為極具挑戰性和苛刻的微電子成像應用的理想選擇。它配備了多重掩模對準、白光幹涉校正等多種自動功能，以及其他先進的圖像分析選項。此外，該工具還配備了高精度級，以促進精確和可重復的晶圓對準。總之，NAPSON NC-3000F掩模和晶圓檢測資產是高精度成像應用的理想工具。其先進的成像功能、自動化的圖像采集和直觀的功能使其成為一個強大的模型,可提供高精度和可重復性。