二手 NEGEVTECH NT 3100 #9030665 待售

NEGEVTECH NT 3100
ID: 9030665
晶圓大小: 12"
優質的: 2005
Defect inspection system, 12" 2005 vintage.
NEGEVTECH NT 3100是業界領先者NEGEVTECH設計的最先進的口罩和晶圓檢測設備。該系統旨在協助半導體制造專業人員檢測和解決掩模和晶圓生產上的缺陷。NT 3100具有廣泛的先進技術,旨在及時產生精確的結果。NEGEVTECH NT 3100利用下一代成像技術,能夠以高達25nm的分辨率檢查掩模和晶片。利用多光譜成像,可以在可見光或紫外線下渲染圖像,提高檢查過程的效率和準確性。圖像處理算法能夠自動檢測掩碼或晶片上的缺陷和差異,從而無需人工檢查。NT 3100還具有自動測量功能,可對掩模或晶圓上的復雜結構進行精確分析。有了測量範圍廣泛的參數的能力,從CD到凸點間距,單位甚至可以檢測到想要的和產生的結構之間的微小差異。此外,機器還支持實時反饋,使操作員能夠快速進行更正。NEGEVTECH NT 3100還具有一個高性能的自動化工具,可以在一個通道內控制多個腔室,這樣可以使資產減少循環時間,增加吞吐量,同時保持高質量和準確性。此外,自動化模型還提供了基於Web的GUI,為控制設備提供了易於使用的界面。NT 3100還提供了功能強大的數據分析工具,例如Sorting Wizard,它允許用戶輕松分析和分類缺陷參數。這有助於快速確定差異的根本原因,使用戶能夠及時采取糾正措施。總體而言,NEGEVTECH NT 3100是一個功能強大的掩碼和晶圓檢測系統,具有先進的成像、自動化測量、自動化單元和數據分析功能。這些特性使NT 3100成為半導體制造專業人士的高效、準確的檢測解決方案。
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