二手 NEGEVTECH NT 3100 #9354788 待售

NEGEVTECH NT 3100
ID: 9354788
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Bright field inspection system, 12" 2006 vintage.
NEGEVTECH NT 3100是一種專用的掩模和晶圓檢驗設備,旨在為半導體器件的制造過程提供精確的精度和質量保證。NT 3100具有高分辨率、擴大的光學成像系統和內置的專有算法,可優化缺陷檢測並減少誤報檢測。一種功能強大的分析引擎,具有實時圖像分析、特征提取和缺陷分類功能,可檢測任何類型的缺陷,即使是最復雜的掩碼模式也是如此。NEGEVTECH NT 3100是一個兩級單元,提供頂層檢測和缺陷的詳細分析。第一階段利用激光掃描和衍射元件檢測缺陷,分析特征邊緣、粒子沈積等關鍵特征。第二階段采用專門的算法對缺陷組件進行分類,並計算出一個「估計排泄率」度量,該度量表示缺陷可能導致芯片缺陷。機器的實時缺陷分析使掩模和晶片檢測器能夠立即采取糾正措施並消除錯誤警報,從而確保產品的最大質量。NT 3100兼容所有標準的蒙版和晶片圖案技術,以及極紫外線(EUV)光刻和納米印記光刻(NIL)等特種工藝。該工具緊湊,可輕松集成到現有的生產環境中。它還能夠與其他檢查系統集成,如非接觸式光學檢查系統和自動缺陷跟蹤系統。NEGEVTECH NT 3100專為可靠性而設計,提供「終身質量保證」保證和嚴格的預防性維護,以最大程度地減少資產停機時間。該型號的可升級軟件確保它將使用最新的技術和技術保持最新狀態。它還提供了廣泛的報告選項,包括詳細的統計報告,使用戶能夠監測和分析不同制造方法或工藝變更的影響。總體而言,NT 3100是一款先進、功能豐富的檢測設備,具有強大的設計和強大的分析能力。它是確保精密半導體器件生產質量和效率的理想選擇。
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