二手NEONTECH(光罩與晶圓檢測)待售

口罩和晶片檢驗設備是半導體工業中確保制造過程中使用的口罩和晶片質量和完整性的關鍵工具。「NEONTECH」是一家信譽良好的制造商，提供先進可靠的檢驗系統。「NEONTECH」的流行型號之一是NTM-60A,模擬掩模檢查系統。它采用高分辨率光學成像系統進行精確缺陷檢測和分類。憑借其多才多藝的能力，NTM-60A可以檢查各種類型的口罩，包括光面罩、EUV口罩和標線。它提供了極好的缺陷敏感性，使得能夠識別即使是最微小的缺陷面膜，如顆粒，圖樣缺陷，或陰霾地層。該系統采用先進的算法進行準確的缺陷檢測和最小的誤報。該NTM-60A可以顯著提高產量,並最大限度地減少代價高昂的誤差。NEONTECH的另一個值得註意的模型是NFTM-5200晶圓檢驗系統。該系統利用諸如暗場和亮場成像等尖端技術以及多種檢測模式進行全面缺陷檢測。它可以有效地識別裸晶片和器件晶片上的缺陷，確保高質量的制造。該NFTM-5200提供卓越的吞吐量,能夠進行高效、快速的檢查。它包含用於精確缺陷分類和分析的先進軟件,便於有效的質量控制。總體而言，「NEONTECH」的掩模和晶圓檢驗裝置為半導體制造商提供了可靠的解決方案，用於維護產品質量，最大限度地減少誤差，最大限度地提高產量。這些機器提供先進的成像功能、準確的缺陷檢測和高效的生產效率,使其成為業界首選。