二手 NIDEC TOSOK TWi-5000 #9280887 待售

NIDEC TOSOK TWi-5000是一種用於檢查半導體晶片和掩模缺陷和缺陷的掩模和晶片檢查設備。TWi-5000系統配備了光學顯微鏡、紅外和紫外顯微鏡、自動晶圓對準、亞微米分辨率、自動缺陷檢測分類、3D地圖生成、專業缺陷分析等方面的最新進展。該單元由高精度、高分辨率的投影顯微鏡組成，能夠以高達50毫米的視野檢查晶片和掩模。其特殊的光學設計使其能夠以突出的清晰度訪問缺陷和缺陷。NIDEC TOSOK TWi-5000機器能夠檢測小到0.1微米大小的缺陷。它還可以對缺陷的類型和性質進行分類，能夠使用復雜的圖像分析算法自動識別潛在缺陷。它還配備了自動晶片對準功能，使其能夠快速掃描晶片表面以獲得高分辨率圖像。這樣可以更快地進行檢查和缺陷分析。TWi-5000還具有3D地圖生成功能,可創建晶圓曲面的數字三維模型。這對於缺陷標記和分類以及與多個晶片的比較都很有價值。最後，NIDEC TOSOK TWi-5000包括專業缺陷分析（PDA）軟件套件，設計用於缺陷表征和驗證。這套直觀的軟件套件包括壽命統計、缺陷與多個晶圓的比較，還可以生成認證和合規性的報告。總之,TWi-5000是一種先進的掩模和晶片檢測工具,它提供了光學顯微鏡、自動晶片對準、亞微米分辨率、自動缺陷檢測和分類、3D地圖生成以及專業缺陷分析等方面的最新技術。它能夠高精度檢測小缺陷，成為半導體制造和檢驗過程中的寶貴工具。