二手 NIKON AMI-3300 #293600872 待售

NIKON AMI-3300是一種用於光學顯微鏡的掩模和晶片檢查設備.它為半導體基板上的臨界高分辨率圖樣的無損成像提供了一種用途廣泛、可靠的工具，如掩模、晶片和標線。AMI-3300具有直徑為120毫米的大視場（FOV）,能夠對樣品中的許多小缺陷進行檢測和分析。該系統還配有高分辨率數碼相機和可變放大鏡頭。這些特性能夠檢查和分析尺寸從10微米到6微米不等的模式。NIKON AMI-3300配備了多種成像和分析軟件，包括接觸模式、成像優化工具和定量分析套件。接觸模式用於獲取API表面上感興趣區域的圖像,並使用圖像優化工具調整每個圖像的焦點和對比度,以突出顯示任何缺陷。定量分析套件提供了特征大小和面積的精確測量，以改善缺陷檢測。AMI-3300具有直觀的用戶界面,設計為用戶友好。此單元易於操作和導航,有助於最小化掩碼和晶圓檢查所需的時間。此外,計算機還支持手動或自動操作,可定制的命令包括校準、成像和數據導出。為確保圖像和分析結果一致,NIKON AMI-3300可以配置多個光源,包括白光源、紫外線光源和斜角光源。該工具具有一個能夠快速高效掃描大面積樣品的電動級。此外，一個縫合圖像輸出使得它可以很容易地查看整個樣品，而無需移動樣品本身。為了進一步控制資產和廣泛的功能,AMI-3300可以與第三方軟件集成,例如缺陷映射、源級別檢查和故障分析。該模型還提供板載計算，以及數據分析和可視化。總之，NIKON AMI-3300是一種可靠、方便用戶的檢測設備，是光學顯微鏡和多種制造工藝質量控制的理想選擇。該系統具有直觀的用戶界面、可變放大鏡頭、電動舞臺和多個光源，能夠精確檢測錯綜復雜的圖案中的小缺陷。再者，該單元可以與第三方軟件集成，支持數據分析和可視化，提供對樣本妝容的詳細洞察。