二手 NIKON Optistation 2A #293749896 待售

ID: 293749896
Automatic wafer inspection system.
NIKON Optistation 2A是一種用於在生產過程中無損檢查口罩和晶片的口罩和晶片檢測設備。它采用先進的3D模式識別和信號處理技術設計,對芯片、晶圓和掩碼上的模式進行準確的評估和測量。Optistation 2A采用先進的三維模式識別系統,可以檢測來自23倍光學增益控制、9倍通道計數增益控制、2倍線路采樣計數和4倍陣列增益控制的輸入。它使用高度先進的光和圖像技術,捕捉和分析圖像,然後對芯片、晶片和掩模上的一級圖樣進行分類,分辨率高達0.02um。這樣就可以精確檢測和檢查生產模式中的缺陷和不規則性。NIKON Optistation 2A配備了納米晶粒液晶顯示屏和數字信號處理器,提供高分辨率圖像,清晰度出眾。獨特的光子鏡檢測功能能夠檢測到最小的缺陷,小至7nm。該單元的設計目的是提供高達每秒1000萬個信號點的數據分析能力,並且能夠自動定位和識別芯片、晶片和掩碼上的缺陷模式。它還能夠顯示缺陷位置和圖像的多維顯示。Optistation 2A提供了極大的靈活性,具有易於使用的圖形用戶界面,允許用戶根據自己的規格定制設置和參數。它具有高速數據處理機,提供快速的結果分析。它還使用64位數據輸出和32位顏色深度來保證精確的測量。此外,NIKON Optistation 2A配備了先進的高級模式識別軟件,使其既可用於光學掩模,也可用於晶圓檢測。它能夠對缺陷和不規則性進行詳細分析,並支持自動化過程控制。它還被設計為高度可靠和精確,提供了一種高效和具有成本效益的檢查手段。
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