二手 NIKON Optistation 3A #293600824 待售

ID: 293600824
Wafer inspection system.
NIKON Optistation 3A是一種面罩和晶圓檢驗設備,設計用於實現經濟高效的半導體制造。該系統結合了高分辨率光學顯微鏡和具有獨特和先進功能的晶片級,使廣泛的任務得以快速準確地完成。該單元包括先進的視覺傳感器、高速圖像分析和圖像處理技術,提供卓越的檢測和定位功能。NIKON OPTISTATION 3A能夠檢測和識別各種掩模層中的缺陷,包括在單個站點上的缺陷。它具有從一個方向檢測大型復雜芯片區域而不是二維成像的能力,以減少檢查時間。該機器還能夠檢查晶片在整個和部分位置邊界上的缺陷。Optistation 3A旨在使掩模和晶片檢測更快、更高效。它擁有盡可能高的幀速率,允許高速成像,即使在大型芯片上也是如此。該工具具有自動圖像穩定資產,即使在沒有背景光學元件的情況下進行成像,也能確保最佳的圖像質量。OPTISTATION 3A還包括創新的模式切換功能,可以快速地使其圖像處理算法適應不同的缺陷效應。此功能允許模型調整其解釋信息的方式,而無需手動切換任何設置。設備還包括先進的模式匹配技術,可以識別缺陷的存在而無需人工確認。NIKON Optistation 3A還可以使用其算法庫準確定位缺陷的大小和形狀,提供更可靠和可信的檢查。NIKON OPTISTATION 3系統能夠快速處理大量晶片和掩模,平均每個模具檢查速度為8秒。它也足夠快速和準確,能夠檢測到可靠性超過98%的小缺陷和難以檢測的缺陷。最後,該裝置設計成在一個環境室內運行,確保機器遠離灰塵和其他汙染物。其內置的氣壓調節工具自動維持穩定、無濕度的環境,同時也將光學器件上的凝結降至最低。總體而言,Optistation 3A資產是一種非常可靠和高效的掩模和晶片檢驗模型,為最高質量的晶片和掩模制造提供了更準確和全面的數據。
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