二手 NIKON Optistation III #293629231 待售

NIKON Optistation III是一件設計用於半導體工業的高端掩模和晶圓檢測設備。它為掩模和晶片檢查提供了一套全面的測量和分析能力，能夠以每小時250個晶片的速度運行。它具有全自動設備,包括高速掃描儀、圖像處理器、圖像分析儀和高精度計量站。該系統提供了完整的過程控制單元，包括高精度的叠加和晶圓測量機、全自動缺陷分析和報告系統。NIKON OPTISTATION-III基於高級光學成像工具，具有高分辨率CCD傳感器和變焦鏡頭資產。CCD傳感器能夠在不到一秒的時間內捕獲掩模或晶片的微觀圖像。變焦鏡頭模型允許對小至5 μ m的特征進行精確分析，從而能夠檢測到非常小的缺陷。Optistation III還包括允許對掩模和晶圓圖像進行自動分析和分類的軟件。OPTISTATION-III還提供了高精度的叠加和晶圓測量設備。該系統可以在檢查後精確測量掩模和晶片上的圖樣，從而能夠檢測可能發生的任何位置和尺寸變化。此外，該單元還配備了先進的計量軟件，可以對測量的模式進行精確的三維分析。該軟件還提供了一套全面的報告工具，用於分析和比較檢查結果。NIKON Optistation III還提供自動缺陷分析功能。此功能自動檢查掩碼和晶片是否存在各種類型的缺陷,然後可以提供有關它們的詳細信息。機器還包括各種手動分析功能，包括手動測量、手動缺陷分類和關鍵缺陷審查。總之，NIKON OPTISTATION-III為半導體行業的用戶提供了一套全面的功能。通過詳細的分析和報告,可以快速準確地檢查口罩和晶片。該工具還包括高精度的叠加和晶圓測量資產、自動缺陷分析和手動分析功能。所有這些特性都有助於確保高質量的檢驗，使Optistation III成為掩模和晶圓檢驗的理想選擇。