二手 OLYMPUS KIF-10W #9395780 待售

OLYMPUS KIF-10W是一種先進的掩模和晶片檢測設備，能夠提供高精度的圖像捕獲和分析。它是一種適用於實驗室和工業環境的通用檢測系統。該單元的設計是通過結合全亮場成像和數字圖像捕捉來快速準確地分析和測量掩模和晶片特征。該機器采用高功率Kohler照明工具和4百萬像素傳感器,可提供高精度和快速的成像功能。KIF-10W資產旨在精確測量遮罩或晶片的特征,如線寬、臨界尺寸和表面地形。它能夠捕獲高達6400萬像素的圖像，並能夠以高精度檢測最微妙的缺陷。高功率車型裝備精良，處理多種樣本尺寸，視野廣，圖像分辨率高。它還具有高速模式投影儀和動態圖像增強功能，確保了復雜樣本的卓越圖像質量。OLYMPUS KIF-10W具有直觀的軟件界面,允許用戶快速輕松地訪問和控制所有圖像捕獲和分析設置。對於晶圓分析,設備提供了一整套成像和分析工具,如3D映射、邊緣檢測、薄金屬線輪廓分析和邊緣偏差測量。它還允許用戶專註於特定領域，並進行手動縮放和平移。此外,KIF-10W還包括使用內置缺陷學習算法庫自動搜索缺陷。這使用戶能夠使用能夠查找和記錄最復雜缺陷的數字成像過濾器快速對缺陷進行分類和表征。此外,該系統還提供了具有實時報告生成功能的自動缺陷分類,使用戶能夠快速輕松地全面了解其樣本的狀況。總體而言，OLYMPUS KIF-10W是一個先進的、高性能的掩模和晶圓檢測單元，設計用於芯片和電路的快速、準確、可靠的檢測和分析。其高分辨率成像能力加上直觀的控制，使其成為實驗室和工業環境的理想選擇。