二手 OSI Metra 2115M #293629181 待售

ID: 293629181
優質的: 1996
Overlay measurement system 1996 vintage.
OSI Metra 2115M是一種設計用於半導體制造過程的先進級掩模和晶圓檢測設備。它利用先進的自動圖像識別技術,快速準確地檢查掩模或晶片表面是否存在可能影響產品質量的缺陷或不規則性。其主要組件包括內置精密X/Y和傾斜運動的掃描階段、基於真空的視覺系統以及高分辨率液晶圖像監視器。視覺單元利用多種光學器件,包括數碼相機、微透鏡和波長敏感傳感器,快速捕捉、分析和顯示掩模或晶圓表面的高分辨率圖像。然後將記錄的數據用於檢測表面微妙的不規則性,如顆粒汙染、裂紋或翹曲,或其他可能導致半導體元件缺陷或低於標準的不規則性。Metra 2115M還包括一個用於編程和過程控制的用戶友好界面。機器能夠執行復雜的任務,如跟蹤不均勻的步驟,控制波形,控制X/Y和傾斜運動。可編程邏輯控制器允許用戶自定義檢查和數據分析過程的參數。此外,OSI Metra 2115M還配備了專門的大格式統計分析軟件,能夠對大量數據進行快速、一致的分析。此軟件可以比較視覺工具在許多晶圓或掩模表面收集的數據,以快速識別異常值或異常。最後,Metra 2115M旨在方便地集成到其他流程和設備中。它的網絡接口允許與其他機器連接,如激光掃描儀或自動分選系統,沒有任何困難。這樣就可以根據需要將其納入其他工藝中,以簡化半導體的生產工藝。
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