二手 OSI Metra 2200M #9384889 待售

OSI Metra 2200M
ID: 9384889
Overlay measurement system.
OSI Metra 2200M是一種掩模和晶片檢測設備,設計用於對半導體制造中使用的晶片和掩模進行快速、準確的檢測。系統使用高級高分辨率成像單元在幾秒鐘內分析晶圓或掩碼上的每個圖像。機器能夠在很短的時間內識別錯誤和缺陷,因此非常適合生產級別的制造。Metra 2200M使用傳感器/itcore處理器和光學陣列這兩個主要組件構建。傳感器/itcore處理器充當工具的眼睛,讀取晶圓或蒙版上的每個圖像。光學陣列以800-1000倍的倍率捕獲圖像,並應用算法分析結果。這使OSI Metra 2200M能夠檢測錯誤和缺陷。Metra 2200M利用各種軟件工具提供結果。其中包括高級模式識別、缺陷審查和過程控制功能。模式識別特征識別圖像中的異常和異常模式,而缺陷查看特征檢查是否存在汙染、未對齊和其他不希望的情況。最後,過程控制功能通過監視過程和提供需要進行的任何調整的反饋來幫助簡化生產。總體而言,OSI Metra 2200M是一種強大而高效的掩模和晶圓檢測資產。它能夠快速準確地檢測生產環境中的缺陷,使其成為半導體制造商不可或缺的工具。該模型的高級功能使其能夠快速方便地識別問題,而其高分辨率成像提供了任何缺陷的詳細圖像。此外,設備的過程控制功能有助於制造商簡化生產。因此,Metra 2200M對於半導體制造商來說是一種有效和可靠的設備。
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