二手 OSI POLYCHECK W-LAF #9329316 待售

OSI POLYCHECK W-LAF是一款由OSI Opto Electronics開發的掩模和晶圓檢測設備。它是一個全自動系統，旨在減少發現光掩模和晶片缺陷的時間和精力。該單元通過檢查晶片和光掩碼的圖像來識別缺陷，然後事先將其分類。利用光學激光投影機，POLYCHECK W-LAF能夠探測極小的粒子和缺陷，例如尺寸小於25 μ m的粒子。這使得該工具非常適合檢查掩模和晶圓尺寸的可接受性,以及發現掩模兩側的缺陷。除了分辨率外,資產還具有兩種不同的光學特性,可以快速準確地進行檢查。該模型包括實時成像功能,可簡化和加快檢查口罩的過程。實時成像功能實時捕獲晶片的圖像,並允許操作員快速檢查圖像中的任何缺陷。此功能在大容量制造應用程序中特別有用,因為它允許快速復制相同的檢查結果。OSI POLYCHECK W-LAF的第二個特點是它的自動化缺陷排序特性。設備能夠根據缺陷的大小和在掩模或晶片上的位置快速準確地排序缺陷。這些缺陷排序參數可以包括x/y坐標、面積大小、亮度/強度、長寬比和最陡度/衰減率。這使得整個檢查過程更快、更高效，因為操作員可以快速識別可能需要更詳細檢查的區域。總體而言,POLYCHECK W-LAF以驚人的速度提供極高的分辨率掃描。其實時成像和自動缺陷分類功能使其成為快速準確地發現掩模或晶片中任何缺陷的理想工具。它是一個功能強大的系統,可以節省時間和精力,同時確保成品沒有缺陷。