二手 PARLEC P2500A-0387 #9266042 待售

PARLEC P2500A-0387掩模和晶片檢查設備是一種高精度設備,用於檢查用於制造集成電路（ICs）的模具、晶片、電路板和其他材料的狀況。它提供了高分辨率的檢查，圖像大小為20微米，並且能夠檢測到小至0.5微米的缺陷。它采用先進的成像系統設計，結合雙目和非接觸光學顯微鏡以及基於三角測量的3D重建。這使得它可以捕獲晶圓或電路板整個表面積的詳細圖像，並且能夠檢測到小至0.5微米的缺陷。該設備有兩種模式：手動模式和自動模式。在手動模式下，手動操縱桿允許用戶手動調整設備的x-y位置和焦點。在自動模式下，「目標鎖」功能確保設備即使在移動設備位置時也會停留在相關圖像的中心位置。此外,該機器還具有基於軟件的特征識別功能,使其能夠檢測要檢查的材料上的圖案、邊和角。P2500A-0387設計易於使用和操作。它集成的圖像存儲允許用戶直接從控制面板瀏覽、存儲和查看已檢查的圖像。此外,內置以太網技術使設備能夠連接到網絡以進行遠程控制和數據分析。PARLEC P2500A-0387掩模和晶片檢查工具為檢查IC提供了可靠的平臺和性能。其高分辨率成像、精密光學、高精度、直觀界面，使其成為芯片、晶圓、電路板檢測的理想選擇。通過使用戶能夠輕松快速地檢測這些材料中的缺陷,資產有助於以顯著較低的成本提高集成電路的質量和可靠性。