二手 PROBING SOLUTIONS WM42 #140675 待售

探測解決方案WM42掩模和晶片檢測設備是一種用於集成電路檢測的高性能、高速成像和分析系統。它專為生產線而設計，用於最苛刻和最復雜的IC，如FinFET、3D和High Voltage （HV）。它為非接觸式光學和接觸式電氣測量提供了強大的檢查能力。WC42單元利用了一系列具有微觀視野的專門設計的探針。探測器連接到具有高分辨率、高變焦鏡頭的成像機，以捕捉IC的圖像。一個包含探頭的成像頭安裝在精確的線性級，允許頭部精確地指向IC的任何區域。這些探針經過精確校準，能夠通過測量電路的最小改變的電行為來識別IC電路中的缺陷。這些探針可與光學和激光技術結合使用，對微觀結構進行完整的物理和電氣分析。WM42的高級分析系統包括幾種先進的圖像處理算法和軟件工具，以便對檢查獲得的圖像進行詳細的檢查和分析。然後,此數據可用於識別缺陷並輸出詳細報告。PROBING SOLUTIONS WM42工具還提供了先進的功率測量,可以識別IC電路中的短路和開路缺陷。功率測量用於識別IC邏輯單元中的電壓和電流下降,這有助於查明電路中的弱點。WM42資產還提供先進的熱、振動和運動控制,使探頭能夠精確移動到IC上的任何點。該模型還為客戶提供了許多選項,例如訪問IC的3D視圖、邊緣增強成像、多通道分析和進給測試。PROBING SOLUTIONS WM42設備對於IC來說是一個非常寶貴的工具,它提供了高級探測和分析功能來識別缺陷並提高產品產量。它實現了更快、更準確的IC監控和生產控制,確保客戶獲得他們期望的產品。