二手 RAYTEX RXW-1226SFI #9257403 待售

RAYTEX RXW-1226SFI
ID: 9257403
Defect inspection system.
RAYTEX RXW-1226SFI是一種掩模和晶片檢查設備,旨在為操作員提供準確可靠的自動光學檢查解決方案。它是一個自動化系統,可用於檢查從晶片到全掩模的一系列物品。它能夠快速準確地檢測一系列缺陷,如劃痕、汙染物和針孔。該單位由兩個主要組成部分組成;內部光學機器和外部底盤。光學工具包括薄二氧化矽基板、激光裝置、各種透鏡、鏡子和濾鏡,以及用於捕捉光信號的成像資產。外部控制器為模型的控制和分析提供了必要的軟件.外部底盤是一個不銹鋼外殼,裏面裝有設備的部件,並與外部電源相連。它具有可調節的安裝點,用於定位光學系統,並配有緊急停止按鈕,用於緊急操作。該裝置以0.5微米的分辨率檢查晶片和口罩,還能夠檢查針孔等小屏障。它配備了兩個用於快速成像的激光點,以及一個光源和可變LED照明機。該工具還支持多種測量方法,包括彩色成像、高放大倍率圖像和使用堆疊傳感器的高分辨率圖像。RAYTEX RXW 1226SFI提供高速掃描,掃描速度高達50毫米/秒。它具有靈活的操作模式,能夠根據需要在多個檢查配置之間切換。它具有很高的效率,每次使用一個掩模或晶片來完成檢查過程。用戶界面專為用戶友好的操作而設計,具有直觀的圖形用戶界面以及易於配置的資產設置。該模型還能夠提供實時圖像反饋以及用於質量控制和檢驗目的的數據分析。設備具有用於遠程控制和數據采集的外部連接。RXW-1226SFI是一種高性能的掩模和晶片檢驗系統,以合理的價格提供質量、可靠性和效率。對於那些尋求自動光學檢查解決方案的人來說,這是一個絕佳的選擇。
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