二手 RAYTEX RXW-1226SFI #9315831 待售

RAYTEX RXW-1226SFI是一種專門設計用於半導體工藝環境的掩模和晶圓檢測設備。該系統配備了一個集成光學檢查組，利用明場和暗場圖像優化，以及結構化紅外技術來檢測廣泛的缺陷。此外，其先進的信號處理機器能夠自動評估缺陷，以便根據缺陷的嚴重程度對其進行分類。RAYTEX RXW 1226SFI具有10微米的超高分辨率。這使得它成為檢查蒙版和其他光阻表面的高度精確的工具。工具中的集成光源進一步確保為缺陷檢查和識別提供盡可能高的照明條件，有助於更快、更高質量的分析。資產還具有多種覆蓋方式，包括帶狀和全覆蓋模式。這些措施在可以進行的檢查和分析類型方面提供了靈活性。此外，模型還提供各種模式識別算法，使其能夠提供缺陷模式的自動分析。該設備還具有觸摸屏界面，為用戶提供直觀易用的界面。這樣可以方便地導航系統,並可用於控制各種設置。該單元還具有各種定制選項，允許為不同類型的檢查量身定制數據輸出。總體而言,RXW-1226SFI是一個優秀的和高度先進的面膜和晶圓檢測機.其先進的光學檢測工具能夠檢測到各種缺陷，其可定制的輸出為分析和檢測這些缺陷提供了更高的精度和準確性。這一資產是一個非常強大的工具，在半導體工藝環境中至關重要。