二手 RAYTEX RXW-1227 EdgeScan #9397347 待售

RAYTEX RXW-1227 EdgeScan
ID: 9397347
Edge defect inspection system.
RAYTEX RXW-1227 EdgeScan是半導體行業的前沿掩模和晶圓檢測設備。它提供晶片邊緣的高分辨率成像,最大限度地提高圖像清晰度,並捕獲整個晶片表面的小缺陷。EdgeScan系統具有高精度的索引機制和符合人體工程學的自動化功能,可實現精確的控制和快速的設置時間。該裝置的全自動過程從裝載和轉移他們或晶片到其檢查室開始。在腔室內部,EdgeScan機器使用了一種精密的激光掃描技術,該技術直接瞄準了材料或晶圓的邊緣,以捕獲整體輪廓並提供材料表面的高分辨率圖像。然後,EdgeScan工具創建缺陷位置和特征的配置文件,從而可以快速準確地評估缺陷。EdgeScan資產采用三種不同的檢測技術-缺陷檢測、曲面輪廓和叠加分析-以確保對掩模或晶圓表面進行全面檢查。這些技術允許對材料進行非破壞性和破壞性檢查,進一步增強缺陷檢測能力,提高整體缺陷檢測準確性。缺陷檢測技術在高級光學圖像處理模型的幫助下,捕獲掩碼或晶片邊緣表面的微小缺陷。「曲面輪廓」(Surface Profile)技術可生成邊緣曲面的3D掃描,以測量形狀並確定材料的關鍵尺寸。Overlay Analysis技術用於檢測和測量掩模或晶片多層之間的臨界對齊公差。EdgeScan設備還提供高級數據分析和報告功能,從而可以進一步分析掩碼或晶片缺陷。它的遠程數據分析功能使用戶能夠快速收集、分析和比較來自不同站點的檢查結果。此外,系統既可以導出結果數據,也可以生成可定制的報告,這些報告可用於確定缺陷的根本原因並提供質量控制反饋。總體而言,RXW-1227 EdgeScan是一個功能強大的掩碼和晶圓檢查單元,旨在節省時間和成本,同時提供高精度的結果。其自動化的光學檢測能力、先進的成像技術以及卓越的數據分析和報告使EdgeScan成為工業半導體掩模和晶圓檢測應用的理想選擇。
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