二手 RMB-TECHNOLOGY LSiS 300 #9227862 待售

RMB-TECHNOLOGY LSiS 300是一款用於半導體行業的先進的掩模和晶圓檢測設備。它能夠檢測包括掩模、晶片和薄膜（如光掩模、液晶屏、MEMS和OLED）在內的一系列應用中的粒子、缺陷、線沿和圖案問題。LSiS 300配備了高分辨率掃描線攝像頭。這款高分辨率相機能夠檢測一系列應用中的粒子、缺陷、線緣和圖樣問題。該系統用戶友好，具備缺陷檢測、線緣輪廓測量、缺陷排序等多種操作模式。該單元的設計目的是在一系列分辨率和采樣尺寸上提供高精度。機器配備了強大的檢測算法，能夠在一次掃描中檢測數千個粒子、缺陷、線條和模式。該工具還能夠分析任何缺陷的大小、形狀和方向。此外,該資產能夠收集和分析來自多個掃描的數據。該模型采用強大的圖像處理算法設計，能夠自動檢測缺陷。圖像處理算法可以突出缺陷並使用多種技術將其歸類為粒子和空隙。此外,這些算法還可以檢測高精度的線邊,並提取圖形特征,如形狀、大小、間距等。RMB-TECHNOLOGY LSiS 300設計具有完全可編程的環境,用戶可以定義多種檢查參數,從粒度和缺陷大小到線緣寬度等。該設備還具有廣泛的數據輸出選項,包括文本、CSV、BMP和其他圖像格式。這使用戶能夠輕松分析來自系統的數據。LSiS 300適用於多種工業應用，如掩模和晶圓檢測、計量、模具檢測、3D地形、故障分析等等。該設備可靠可靠,能夠提供可靠的結果。該機器為檢查一系列半導體應用提供了快速、高精度和低成本的解決方案。