二手RUDOLPH(光罩與晶圓檢測)待售

Rudolph Technologies是一家全球先進半導體工藝控制設備制造商，用於掩模和晶圓檢測。它們的掩模和晶片檢查系統範圍包括WV 320、NSX 105和Waferview 320等。WV 320是一種先進的掩模檢測系統,可提供出色的分辨率和靈敏度,用於檢測光掩模上的小缺陷。利用寬帶紫外線檢測技術與先進算法相結合，提供準確的缺陷分類和表征。WV 320確保提高半導體制造的產量和可靠性。NSX 105是一種高性能晶片檢測系統，旨在檢測晶片上的缺陷並對其進行分類。利用先進的光學技術和圖像處理算法，提供快速準確的檢測結果。NSX 105具有廣闊的視野和較高的吞吐量,能夠在晶圓生產過程中進行有效的缺陷檢測,減少產量損失並改進過程控制。Waferview 320是一種多功能晶片檢查系統,提供全面的缺陷審查功能。它結合了明場和暗場檢測技術，提供了關於缺陷大小、形狀和位置的詳細信息。Waferview 320是前端和後端晶圓檢測的理想選擇,能夠在整個半導體制造過程中快速可靠地檢測缺陷。總體而言,Rudolph的掩模和晶圓檢測系統提供了先進的技術、高分辨率成像以及可靠的算法,可用於準確高效地檢測缺陷。這些系統幫助半導體制造商提高產量，降低成本，增強工藝控制。