二手 RUDOLPH / AUGUST CV 9812 #9223286 待售

ID: 9223286
晶圓大小: 12"
Wafer career inspection, 12" High resolution CCD Camera Probe LCD, 15” PC: Processor: 300 MHz Hard Disk Drive (HDD): 4.3 GB Floppy Disk Drive (FDD): 3.5” Dram: 24 x CD 32 MB Operating system: Windows NT4.0 Power unit: Cable Handy barcode reader Performance: Measurement accuracy: Direct measurement: ±0.0254 mm Rear wafer position measurement: ±0.0762 mm Repeatability: ±0.013 mm (Use STD Calibration tool, 6σ) Operating environment: 20°C - 22°C (Volatility 0.5°C/hour ≦) Facility: Manual CDA: 90 - 100 PSI 5/16” OD Power supply: 200-240 V, 50/60 Hz, 1φ.
RUDOLPH/AUGUST CV 9812掩模和晶片檢查設備是一種高性能、可靠的工具,旨在快速、準確地對光刻塊進行高效的目視檢查和分類。該系統提供多種檢查功能,特別註重檢測組件上的異物顆粒、顛簸、劃痕和其他類型的缺陷。該單元的應用適用於平板顯示器、半導體集成電路(IC)、OLED、有機LED(OLED)、LED、太陽能電池等薄基板的檢測。該機配有精確的無玻璃、光學完美的檢測窗口,用於測量遮罩層的精確間距。這使得該工具能夠以極高的精度檢測光刻塊中的微小變化,從而能夠對缺陷圖樣進行分析和補救。該資產還支持自動缺陷檢測的高級算法以及手動檢查。為了檢測組件上的粒子等缺陷,模型采用了先進的光學技術,其中包括激光幹涉測量和圖像處理。激光幹涉儀用於精確測量遮罩層上每個細節圖樣之間的距離。然後,圖像處理器分析圖像以識別缺陷,例如存在異物粒子。圖像還可用於根據大小、形狀、位置和其他參數對缺陷進行分類。設備還可以檢測和分類多級缺陷。這意味著技術人員可以更詳細地了解問題,幫助他們確定缺陷的原因或對其進行相應分類。這樣可以節省時間和資源,提高效率並防止進一步的產品損壞。AUGUST CV 9812 Mask&Wafer檢驗系統也與測試系統集成,允許操作員在評估和修復缺陷的同時檢查生產狀態。此外,該單元的設計旨在提供先進的分析能力,以進一步提高缺陷檢測的準確性。它確保以與其他利益相關者(如硬件工程師和供應商)共享的方式收集和存儲可操作的數據。RUDOLPH CV 9812面膜晶片檢測機是光刻塊快速、精確、準確檢測分級的先進工具。其通用的光學技術、自動化的檢查功能和集成的分析使其能夠及時高效地檢測和修復缺陷,從而幫助節省成本並提高產品質量。
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