二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 105C #9277053 待售

RUDOLPH/AUGUST NSX 105C Mask和Wafer Inspection設備提供了性能、多功能性和可靠性的獨特組合。該系統設計用於在制造過程中檢測口罩和晶片上任何大小和形狀的缺陷，可用於檢測高達25微米的分辨率。AUGUST NSX-105C能夠檢測接觸層、薄膜層、高長寬比結構、CD和音高等特征,還可以檢測可能影響產品質量的顆粒和其他汙染物。RUDOLPH NSX 105 C具有相機頭的自動可編程定位，由屏幕上的圖形用戶界面控制。這樣就可以將攝像機精確定位在所檢查的每個對象所需的視場中。RUDOLPH/AUGUST NSX 105 C的一個獨特特點是圖像可以用無透鏡光學單元聚焦。這意味著，用戶無需手動購買鏡頭和調整對焦，只需簡單地輸入所需的圖像大小，並將相機定位對焦即可。RUDOLPH NSX-105C帶有各種圖像采集軟件，可用於獲取和處理圖像數據。該軟件允許獲取多個圖像,然後可以比較這些圖像進行檢查。軟件的比較功能可用於檢測兩個或多個圖像之間的不規則性,以識別任何缺陷。為了提供更可靠和一致的結果,可以快速、準確地做到這一點。此外,NSX 105C還提供自動缺陷分類,以更好地保證質量。此自動化功能使用戶能夠快速識別和分類被檢查對象中發現的任何缺陷。該機還配備了可用於檢測材料微觀缺陷的反射測量工具。總體而言,NSX 105 C蒙版和晶圓檢驗資產是確保產品制造質量的寶貴工具。該模型將性能和可靠性相結合,使其成為尋求減少缺陷和改進其整體工藝的任何制造商的絕佳選擇。