二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 105C #9300479 待售

RUDOLPH/AUGUST NSX 105C Mask&Wafer Inspection Equipment是一種用於檢查現代半導體制造工藝中使用的mask和wafer的高分辨率系統。該裝置采用2nm分辨率的光學器件，即使是最復雜的圖樣也能提供高精度的圖像分辨率。光學器件連接到高分辨率掃描相機，提供出色的圖像清晰度。AUGUST NSX-105C為半導體制造工藝提供了極好的好處,因為它能夠進行多次缺陷檢查,並評估工藝是否符合規範。機器由兩個主要單元組成，一個光源模塊和一個自動檢測模塊。光源模塊提供了包括LED、激光和弧光燈在內的廣泛照明。自動檢測模塊可以檢測多個平面的缺陷。它還為圖像數據的分析和管理提供軟件。RUDOLPH NSX 105 C是為了滿足現代半導體器件制造的嚴格需求而設計的。其先進的光學器件可以顯著改進成像,而不是老式的晶圓檢測系統。該工具采用了一種專有的航空圖像傳感技術，使它能夠在進行一次掃描所需的時間內掃描晶圓的整個表面。輕巧緊湊的資產設計使其非常適合在大批量生產環境中使用。NSX 105 C還提供高級缺陷檢測功能。它配備了多種先進的檢測算法，保證了優異的缺陷檢測性能。用戶還可以利用該模型進行快速、高效的數據分析。該設備非常方便用戶，並提供有用的反饋和供應分析工具，以最大程度地檢測缺陷。總體而言，NSX-105C面膜晶片檢驗系統是一個先進的單元，用於檢測適用於大批量生產環境的面膜和晶片。其先進的光學設備可實現高分辨率圖像,從而實現快速準確的缺陷檢測。該機用戶友好性強，功能豐富，是半導體器件制造過程中的寶貴資產。