二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293595875 待售
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ID: 293595875
優質的: 2009
Automatic Optical Inspection (AOI) system
X-Port Wafer handler included
2009 vintage.
RUDOLPH/AUGUST NSX 115是一種最先進的掩模和晶片檢測設備，利用強大的成像技術和先進的模式檢測算法來檢測用於制造各種半導體產品的掩模和晶片上的缺陷。該系統采用5英寸液晶觸摸屏,提供易於使用的用戶界面,使操作員能夠快速監控生產過程的質量。使用單色數碼相機和專有的掃描頭,該設備能夠同時捕獲兩個圖像,並在單個高速通過樣本時進行特征檢測。高分辨率和高增益圖像傳感器可提高所有類型缺陷的圖像分辨率,而同時進行平面成像、垂直和水平圖樣掃描、線圖和位圖掃描則通過可配置的峰值檢測設置和先進的反卷積技術實現。機器還提供了選定的晶圓檢查算法和掩碼檢查算法庫,這些算法是針對特定缺陷類型量身定制的,可以根據用戶的特定應用程序或測試要求進行配置。為了獲得最大的檢測能力,AUGUST NSX 115提供了廣泛的功能和設置,包括缺陷庫、直方圖編輯和移位,以及對象分類器和分段。最後,該工具提供了真色成像、缺陷自動分類和評分、缺陷分析和分類,以及增強的庫資產,可幫助操作員進行缺陷分析和報告。這使操作員能夠了解缺陷的來源，並在故障分析中提供幫助，幫助他們快速修正並最大限度地減少生產線延誤。總體而言,RUDOLPH NSX 115掩模和晶圓檢驗模型是確保半導體產品制造質量的有力工具。它結合了先進的掃描技術、故障檢測算法和用戶友好的界面,確保它能夠高效、快速地識別、分析和量化甚至最困難的缺陷,從而為操作員提供保證產品質量所需的工具。
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