二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 115 #293598219 待售

RUDOLPH/AUGUST NSX 115是一種高性能的掩模和晶圓檢測設備，設計用於檢測各種半導體器件應用中的缺陷。該系統采用先進的成像技術和先進的算法，對包括先進包裝和光電子在內的多種材料進行檢測。它能夠檢測與圖像相關的缺陷,如線寬變化、模式偏移、邏輯和內存晶片上的開路/斷路以及超細Cu/Al布線。AUGUST NSX 115單元采用全自動集成設計,需要最少的操作員,並允許經濟高效的自動檢查。它配備了強大的光學成像能力，包括先進的模式識別、晶圓識別閱讀器（WDIR）、模式檢測和粒子自動檢測。它還提供了廣泛的檢查速度,包括快速掃描速度和設備特性的精確測量。RUDOLPH NSX 115具有高分辨率的全彩屏和直觀的用戶界面，能夠快速高效地比較來自多個掩碼和晶片的數據。這臺機器有廣泛的集成檢測選項，包括模模檢測、晶片對晶片檢測和同時模模和晶片對晶片檢測。它還提供了用於缺陷自動分類的獨特模式識別庫，以及用於減少錯誤檢測的高級模式匹配算法。該工具的全自動視力檢查能力進一步簡化了操作，從而無需人工抽樣檢查和昂貴的硬件。資產的多區域驗證功能為檢測部分缺陷提供了經濟高效的解決方案。此外，NSX 115具有良好的可重復性和可重復性，具有優異的缺陷檢測靈敏度，有利於優越的缺陷表征和屈服分析。總體而言,RUDOLPH/AUGT NSX 115型號是一款用途廣泛、性能高、成本效益高的掩模和晶圓檢測設備,旨在滿足半導體器件應用的嚴格要求。該系統具有先進的成像技術、快速的掃描速度和直觀的用戶界面，是檢測關鍵缺陷和提高產量的有力工具。