二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 320 #293827301 待售

ID: 293827301
Automatic Optical Inspection (AOI) systems Wafer handling station Pneumatic pressure: 758.42 kPA, 7.58 bar Compressed air: 2 SCFM 110 psi Amperage motor or load: 12 Amps Capacity (AIC): 5000 Amperage protection device: 50 Amps Conductors: (2 + GND), 3x1.55 mm² (16 Amp) Frequency range: 50/60 hz Amperage: 40 Amps max Power supply: 200-240 VAC, (single phase + GND).
RUDOLPH/AUGUST NSX 320是一種先進的掩模和晶片檢測設備,設計用於識別半導體晶片和掩模中的缺陷。此技術包括成像和分析系統陣列,可快速準確地檢查掩模和晶片的表面缺陷、不可接受的尺寸和其他潛在缺陷。AUGUST NSX 320具有單路照明系統、增強的光學器件和高精度x/y級,可在一次對齊中掃描多達六個晶片(三個掩模和三個晶片)。該單元還具有先進的粒子標記、可調深度控制和可變的Z間距。該機的規格包括一個擁有8x8毫米視野的成像工具、1.0 μ m的橫向分辨率,以及一個用於掩模和晶圓檢查的易於使用的界面。顏色獨立資產還具有較高的動態範圍和先進的對比度管理.RUDOLPH NSX 320利用先進的照明水平和照明技術,如鹵素和冷照明,最大限度地提高吞吐量,提高圖像質量。該模型還具有先進的缺陷檢測算法,該算法可以識別短缺陷和長缺陷,無論它們位於表面的何處。該設備具有「智能」缺陷識別系統,可以區分特征和模式,使其能夠準確識別小缺陷或難以發現缺陷。為確保可靠性和準確性,NSX 320還使用一個特殊的跟蹤單元來捕獲和記錄機器內的每個檢查。這些數據可用於校準工具,並隨時間跟蹤每次檢查。總體而言,RUDOLPH/AUGT NSX 320是一種高級掩碼和晶片檢查資產,旨在快速準確地檢查掩碼和晶片的表面缺陷、不可接受的尺寸和其他潛在缺陷。其先進的成像模型、可變Z間距和集成缺陷檢測算法有助於為用戶創造可靠且可重復的結果。
還沒有評論