二手 RUDOLPH / AUGUST NSX 95 #293755012 待售
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單擊可縮放
RUDOLPH/AUGUST NSX 95掩模和晶片檢查設備是一種最先進的光學檢查系統,旨在檢測半導體晶片、標線、掩模和無與倫比的清晰度平板表面的缺陷和汙染。除了標準的光學檢查外,該單元還配備了先進的ColorMap™技術,這是一種以標準和直觀的格式顯示缺陷的可視化方法。AUGUST NSX-95機器使用先進的圖像處理算法來檢測缺陷,同時通過硬件壓縮實現毫秒的處理速度。這使工具能夠快速準確地識別對象,並處理復雜、重叠的圖像而不會出現延遲。板載邊緣去縮放和圖像恢復等功能確保檢查結果始終準確可靠。該資產配備了高性能晶圓掃描模型,用於完全識別和捕獲表面缺陷和汙染物。它利用大視野、高分辨率相機和高功率、近紅外LED源來實現最大的性能和靈敏度。該設備還配備了一系列面罩和標線測量工具,使用戶能夠測量缺陷和汙染,包括遺漏的特征、近似性和均勻性。系統還測量缺陷相對於每個設計元素邊緣的位置,允許用戶檢測到太小或太靠近設計元素邊緣而大多數標準系統無法檢測到的缺陷。該單元是可擴展的,允許用戶自定義其功能以滿足其特定應用程序的需求。可選的攝像頭和照明升級可提高靈敏度和性能,同時可根據需要添加掩模測量工具和自動缺陷分類功能。RUDOLPH NSX 95 Mask&Wafer Inspection Machine為Mask和Wafer Inspection提供了完整的解決方案,使用戶能夠快速、準確、可靠地檢測缺陷和汙染。憑借其高性能、創新特性和可擴展性,該工具適合廣泛的檢測要求。
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