二手 RUDOLPH / ONTO INNOVATION NSX 320 #9396970 待售
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









ID: 9396970
晶圓大小: 8"
優質的: 2014
Automated defect inspection system, 8"
2W XPT Explorer function
Load port with robot handler
BASLER Inspection camera
Operating system: Windows 10
Power supply: 208-240 V, 50 Hz, Single phase
CE Marked
2014 vintage.
RUDOLPH/ONTO INNOVATION NSX 320是一款先進的掩模和晶圓檢測設備,旨在快速準確地檢測缺陷。該系統具有高度靈敏的攝像頭,可以從每個晶片的頂部和底部捕獲圖像,從而可以進行多級檢查。強大的成像軟件可以檢測到可能通過其他關鍵檢測系統無法檢測到的各種缺陷,使其成為半導體行業質量控制必不可少的工具。RUDOLPH NSX 320是一個功能強大但易於使用的單元。其用戶友好的界面和廣泛的可自定義的用戶選項確保所有的掩模和晶圓檢查準確、快速和可靠地執行。該機適合2D、3D和360度的檢查,相機角度和對焦可調,提供每個晶片的綜合視圖。該工具的高級軟件套件使用高級算法識別關鍵缺陷,能夠檢測和分類顆粒缺陷、線缺陷和聚酯薄膜缺陷,以及其他關鍵缺陷,精確度很高。憑借其高速,ONTO INNOVATION NSX 320可以檢測和測量像素大小小於10微米的缺陷,提供完全覆蓋的掩模和晶圓檢查。NSX 320具有高級檢查和標記識別功能,可準確檢測和測量其他檢查系統可能隱藏的缺陷。它還可以檢測特定模式,如隨機點缺陷和斷線缺陷,以及其他關鍵缺陷。該資產還具有一個強大的工具,用於測量和分析缺陷,以準確追蹤和報告結果。其獨特的技術能夠檢測晶片上的缺陷位置,並生成缺陷輪廓和其他關鍵信息的報告。該模型具有廣泛的數據存儲和召回功能,能夠快速、輕松地檢索結果。RUDOLPH/ONTO INNOVATION NSX 320還可以通過Web服務或通過使用USB驅動器接收數據,從而實現多個設備用戶之間的遠程協作和數據交換。RUDOLPH NSX 320的最終用戶能夠依靠系統的高速、高精度性能來確保其產品的質量。ONTO INNOVATION NSX 320具有易於使用的界面、強大的成像和分析工具,以及廣泛的存儲和召回功能,是高級掩碼和晶圓檢查的基本解決方案。
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