二手 SEIKO SIR 3000 #9105307 待售

SEIKO SIR 3000是為滿足現代半導體制造工藝的需求而設計的先進的掩模和晶圓檢測設備。該系統允許精確測量和識別模具或晶片上包含的細線圖樣和隔離電路等圖樣中的缺陷。設備的檢測機構首先利用先進的表面成像機精確捕獲、測量和檢查掩模或晶片的表面特征。然後,此工具可以利用光學技術將捕獲的圖像與「良好」參考圖像進行比較。SIR 3000的成像資產還測量了可用於確定介電厚度的線寬、隔離電路和3D結構布局等表面特征，以及其他特征。該模型還允許檢查表面和幾何缺陷,如劃痕、表面粗糙度和鑿子。該設備包括可快速識別缺陷的批量圖像創建和圖像比較工具。高倍光學功能允許實時檢測掩模或晶片中的缺陷。該系統還提供晶片級缺陷檢測以及掩模缺陷檢測和字符分級。SEIKO SIR 3000還提供了多種基於日誌的分析工具，使操作員能夠輕松分析和調整圖像校準結果。背面圖像檢查也可用於檢測異物粒子等特征。SIR 3000可進行各種軟件升級,包括改進自動化和提高缺陷晶片濃度的軟件。該單元還具有一個用戶友好界面和一個內置數據庫，可存儲多達1000個圖像和測量值。SEIKO SIR 3000是實現面罩和晶圓檢查急需的精確度的重要工具。它提供了詳細的分析和快速的結果,以便制造商能夠實時了解其生產過程是否正常運行。該機先進的技術，加上用戶友好的特點，使其成為當今市場上領先的面罩和晶圓檢測系統之一。