二手 SEMILAB / SDI FAaSt 210E-SPV #9203133 待售
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ID: 9203133
晶圓大小: 6"-8"
Contamination measurement system, 6"-8"
Unislide rotary table B4818TS
NEWPORT MM3000 + 23556
AD TECHNOLOGY 3800-1745
PHOTON Wheel BO76
SPV Lightsource
SIGNAL RECOVERY 197 Light chopper
PLANAR PL100M
ADEK R7IFI48AB
PC700 Monster power center
Trip lite power production
Astrodyne MSCA-5005
API Getty 230-6102FH
EG&G INSTRUMENTS 7265
TEXAS INSTRUMENTS Peripherals DT-5K-PS/2
Logic supply power LPS-12
WATLOW 96
DANAHER 1122317
MG Chemicals 846-80G
Manuals not included
Power supply: 110 AC, 50/60 Hz, 3000 W.
SEMILAB/SDI FAaSt 210E-SPV是一種中等水平的掩模和晶圓對準顯微鏡設備，設計用於檢查半導體晶圓和掩模中的缺陷、侵蝕和表面完整性。該系統具有內置的自動化單元控制（SC）和用戶友好的直觀圖形用戶界面（GUI）。這款檢測機的整體尺寸只有800毫米x 680毫米x 640毫米，體積小巧，但用途廣泛。SDI FaaSt 210E-SPV提供了多種功能來增強半導體行業的運營商的能力。該工具采用10位XYZ級,能夠進行多層檢查、自動和手動對齊、傾斜和擺動調整以及高級自動對焦功能。它還提供了具有直接晶圓操作的亮場/暗場圖像顯示、具有0.3-2.5X放大範圍的6位電容器以及高達25X的工作距離。SEMILAB FaaSt 210E-SPV還提供各級圖像采集和分析功能。通過內置的圖像移位校正,可以檢測到並準確識別未對準。它還包括一種先進的基於算法的特征識別和掩蔽，用於無缺陷檢測、邊緣檢測以及粒子計數和尺寸分析。此外,還可以進行多種測量,包括線寬、邊緣輪廓和叠加精度。展望未來,FaaSt 210E-SPV配備了高分辨率CCD攝像頭資產、可調曝光時間以及功能強大的基於PC的圖像分析模型,從而產生更大範圍的缺陷/特征識別和分析。此設備還包括一系列圖像報告功能,可立即評估結果和查看通過/失敗狀態。總體而言，SEMILAB/SDI FAaSt 210E-SPV是一種可靠的中型掩模和晶片檢測系統，旨在可靠地檢測和測量最小的缺陷。它提供了一整套高級功能,以確保用戶能夠從檢查過程中獲得最佳結果。
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