二手 SEMILAB / SDI FAaSt 230 #9355343 待售

SEMILAB/SDI FAaSt 230是一種掩模和晶片檢測設備，設計用於快速準確地檢測測試晶片、掩模和其他半導體基板上的缺陷。該系統能夠檢測顆粒汙染物、接觸墊上的缺陷、開路或短路、風吹、蝕刻、腐蝕以及基板上的打印缺陷。它是一個完全自動化的單元,具有直觀的用戶友好軟件,用於快速設置、診斷和報告。該機配有偏振光顯微鏡（PLM）工具，可提供高質量的半導體結構成像。內置有DLP和背光光學器件的光學檢查頭使資產能夠捕獲結構圖像,以便檢測、識別和分析缺陷。自動化缺陷檢測和實時圖像處理等內置技術和算法使得能夠對復雜的半導體結構進行高效、可靠的分析。該模型除了具有成像能力外，還具有一整套測量和特征，包括臨界尺寸（CD）測量、通過噴墨和標記沈積物進行故障分析以及氧化膜分析。專用的XY級允許在樣品上精確移動和定位,以便更好地進行分析。此外,它還附帶多個數字接口,例如USB、LAN和DPI,以促進與外圍設備和外部軟件應用程序的集成。該設備以先進的激光聚焦技術提供了最高水平的準確性和可重復性。結合其半自動自動鋁箔更換功能，它允許快速數據捕獲和分析，每小時處理多達500個晶圓。有了深層的分析數據庫和跟蹤文件，客戶可以快速搜索自己的記錄，並查明生產線上可能遇到的困難。此外，該系統還獲得了SEMATECH、IEST-RP-CC002.3、ISO/IEC 24324和STMicroelectronics等機構的認證，使其成為質量保證和生產線分析的理想工具。其符合人體工程學的設計允許將單元的各個部分方便地納入分析和生產行業。SDI FAaSt 230是一款先進的掩模和晶圓檢測機，可以為其用戶提供可靠的高性能結果。