二手 SEMILAB / SDI FAaSt 300-SPV #173920 待售
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單擊可縮放
ID: 173920
晶圓大小: 8"-12"
優質的: 1997
Surface photo voltage tester, 8"-12"
Contact and non-contact surface photo voltage test capability
Open cassette handling
EQUIPE TECHNOLOGIES ATM-105 Wafer handling robot
EQUIPE TECHNOLOGIES ESC-212 Robot controller
EQUIPE TECHNOLOGIES PRE -3019 Wafer pre-aligner
(2) NEWPORT RESEARCH MM3000 Motion controllers
Light activation module:
Designed for 200mm & 300mm wafers
SDI Control Fe activation controller
Dual halogen lamp housings
Wafer analysis module:
EG&G PAR 7260 DSP Lock-In amplifier
SDI LPS-12 Power supply
SDI Opto coupler
Reference light module:
Halogen lamp housing
EG&G PAR 197 Light chopper
Filter wheel assembly
(8) Filters
Fiber optic light delivery
Wafer analysis chuck:
Anodized aluminum wafer chuck, 8"
Designed for 200mm & 300mm wafers
Calibration chip fixture
HEWLETT PACKARD Vectra XA computer:
3.5” Floppy disc drive / CD-ROM Drive
SYQUEST ezflyer 230GB Backup tape drive
Color LCD monitor, 15”
Ghost HDD included
1997 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 300-SPV是業界領先的面膜和晶圓檢測設備。該系統能夠提供高分辨率的映像、快速的吞吐量和全面的映像邏輯。作為一個先進的單元，它結合了標準的掩模和晶圓檢驗機的先進特性以及一個完全可配置的平臺的靈活性。主要工具由掩模檢測室和晶圓檢測室兩個主要組成部分組成。口罩檢查室能夠支撐各種口罩，並提供高達1.46億條每秒記錄的全場高分辨率圖像。它具有超低噪聲數字信號處理器（DSP）,可同時成像、評分和分析一批多達24個掩碼。晶圓檢測單元提供了一套全面的檢測功能，包括每秒高達2400萬像素的高分辨率成像和用於自動缺陷分類的高級圖像邏輯。SDI FaSt 300-SPV還提供各種處理器和數據管理解決方案。它支持靈活的邏輯功能和數據采集,使用戶能夠根據自己的特定檢查需求定制資產。它還允許整合額外的檢查系統或組件。憑借其完全可配置的平臺和快速的映像吞吐量,該模型可以配置為有效地解決最具挑戰性的故障分析應用程序。除了成像和數據采集能力外，SEMILAB FAaSt 300-SPV還配備了自動化缺陷表征和分析的高級工具。這些包括缺陷隔離、顯微鏡分析、自動化測試分析、故障模擬和光電布局視圖。這使用戶能夠快速識別和糾正缺陷,以避免因代價高昂的故障而造成的代價高昂的停機時間。FAaSt 300-SPV是業界領先的面膜和晶圓檢測解決方案。該設備結合了先進的成像、快速的圖像吞吐量和全面的圖像邏輯,為要求苛刻的故障分析應用程序提供了無與倫比的靈活性和性能。其可配置的平臺和強大的數據管理解決方案確保用戶能夠放心地滿足他們最具挑戰性的故障分析需求。
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