二手 SEMILAB / SDI FAaSt 330 #33072 待售
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單擊可縮放
ID: 33072
晶圓大小: 8"-12"
優質的: 1999
Wafer characterization system, 8"-12"
Open cassette handling, 8"-12"
Anodized aluminum hot chuck, 12"
Gold plated measurement chuck, 12"
(2) NEWPORT RESEARCH MM3000 Motion controllers
Temperature control box
Corona switch box
I/O Control box
Optocoupler
BNC Switch box
Vacuum / Pneumatic control box
WAVETEK 29 DDS Function generator, 10 MHz
(2) BERTRAN 2341-1 High voltage power supplies
HEWLETT PACKARD Vectra VE6 / 450 Computer
Floppy Disc Drive (FDD), 3.5"
100 GB Jazz drive
MITSUBISHI LXA550W LCD Monitor
OMEGA HX92 Humidity sensor / Transmitter
Plasma damage monitor
Robot, prealigner and controller removed
Power supply: 12 / 24 V
1999 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 330是一種掩模和晶圓檢測設備，設計用於快速和高度精確地測量印刷電路板成像。該系統使用光學顯微鏡提供有關每一個印刷層的大小、形狀和面積的信息。該單元還提供布線圖樣和焊接面罩的可見性和成像效果。SDI FAaSt 330使用激光照相機成像機捕獲分辨率低至0.12 µm（微米）的圖像。在一次掃描中,它可以測量多達6平方米的材料,這意味著它可以快速評估高質量的打印。攝像機連接到一個計算機工具，能夠對圖像進行強大的後處理。該軟件提供了廣泛的數據分析功能,包括檢測短路、填充和橋接以及測量線寬和間距的功能。SEMILAB FAaSt 330還使用邊緣檢測算法檢測銳邊和曲線。它提供0.24 µm的邊緣檢測精度，可用於測量1至60層圖樣。將成像資產和邊緣檢測算法結合起來，可以改進布線模式和焊接掩碼的檢查。此外，FaSt 330提供了關於被檢查數據的各種詳細統計信息。這包括缺陷總數、每個區域的缺陷數量以及平均缺陷大小。這可幫助您快速、詳細地識別問題元素。最後,SEMILAB/SDI FAaSt 330具有強大的用戶界面,提供了快速操作和解釋數據的簡便方法。該模型旨在供工程師和技術人員使用。它還提供自動峰值分析和警報功能,在檢測到任何物理缺陷時通知用戶。所有這些特性使SDI FAaSt 330成為強大的掩模和晶圓檢測設備。
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