二手 SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9268262 待售

SEMILAB/SDI FAaSt 350掩模和晶片檢測設備設計用於在半導體集成電路生產過程中對制造的掩模和晶片進行自動表面缺陷檢測。此自動化系統可快速可靠地檢測和評估各種基板上的表面缺陷,包括晶圓、掩模、鉛架、電子元件和其他扁平基板。該單元包括綜合SDI FAaSt 350光學站，為最高精度成像和缺陷檢測配備了高品質的Leica光學。它具有高分辨率的成像能力，可以檢測到小至4 μ m的缺陷，而其專利的Low- FG照明機器可以確保無缺陷的背景圖像。此工具還提供了出色的圖像對比度和可見性,以便於缺陷識別和分類。SEMILAB FAaSt 350的設計非常方便用戶,它具有簡單直觀的圖形用戶界面（GUI）,能夠快速輕松地檢查樣品。不同的設置可以在資產上進行編程和保存，允許操作員在被檢驗的樣本需要不同的檢查協議的情況下快速調整機器。除了成像模型外，FAaSt 350還具有自適應子分辨率檢查算法，允許對缺陷進行實時檢測和分類。這些算法對圖像進行分析，以便準確識別樣本中的缺陷。此外,機器的自動聚焦和對比度優化技術提供準確的圖像捕獲,以確保準確的缺陷本地化。SEMILAB/SDI FAaSt 350設備還設計用於高吞吐量操作,其自動樣品處理功能允許每小時最多檢查30個晶圓。它的自動晶片對準模塊可以方便地容納各種各樣的晶片尺寸和厚度，從而使晶片與晶片的對準變得快速和容易。一旦對齊，系統就能夠產生詳細的定量結果，從而對缺陷檢測有更大的信心。最後，SDI FAaSt 350掩模和晶片檢測儀是一種先進的自動化機器，專門設計用於半導體集成電路生產過程中的掩模和晶片檢測儀。其高分辨率的成像能力、直觀的GUI和先進的成像算法提供了高度準確可靠的缺陷檢測，而其吞吐量能力和自動化的樣品處理使其成為制造樣品高速檢測的理想選擇。