二手 SEMILAB / SDI WML-1 #293642359 待售

SEMILAB/SDI WML-1是一種用於識別和檢測半導體芯片生產缺陷的掩模和晶圓檢測設備。該系統能夠檢測面罩和晶片級的各種缺陷，具有極好的準確性和可重復性。SDI WML-1由多個組件組成,包括光學控制臺、步進器、光敏剝離器和激光陣列發生器。光學控制臺設計用於檢測光掩模中的缺陷，而步進器則用於檢測晶片中的缺陷。光致抗蝕劑剝離器有助於從光掩模中去除不需要的材料，從而使底層缺陷易於識別。激光模式發生器可用於生成光掩模和晶圓的定制設計模式。SEMILAB WML-1的主要特點之一是其自動缺陷檢測單元。它能夠快速準確地檢測光掩模和晶片中最小的缺陷,從而無需手動檢查。機器還能夠檢測到許多不同類型的缺陷，包括汙染物、粗糙度和斷線。WML-1還提供了一個獨特的數據分析工具，可以對缺陷檢測結果進行詳細分析。其強大的圖像分析軟件用於準確識別和分類不同類型的缺陷，為優化生產過程提供了寶貴的數據。總體而言，SEMILAB/SDI WML-1是一種功能強大、可靠的掩模和晶圓檢測資產，旨在識別和檢測半導體芯片生產中的缺陷。它結合了自動缺陷檢測和強大的圖像分析軟件，使其成為任何半導體芯片生產設施的重要工具。