二手 SEMILAB / SDI WT-2010D #9267612 待售

SEMILAB/SDI WT-2010D掩模和晶片檢查設備是一種高精度成像系統,旨在在集成電路掩模和晶片中提供完整、可重復的成像和特征大小的數據收集。該設備的設計目的是快速、輕松地檢查這些材料是否有任何異常或缺陷。SDI WT-2010D由靈活的X-Y掃描級和功能強大的光學機器組成,這兩者可以協同工作,對掩模和晶圓表面上的小規模特征進行快速、準確的成像。掃描階段由高效的X-Y微型掃描儀驅動，它可以在X和Y方向上以精確的增量步驟移動階段。電動驅動器在掃描和圖像捕獲過程中確保平穩、準確的運動。SEMILAB WT-2010D光學工具利用了完全可定制的三視資產。這款機型由三個獨立的高分辨率鏡頭組成--每個鏡頭都有自己的有限調節能力，允許用戶精確調整鏡頭的放大倍率、視場和數值光圈。這些鏡頭提供清晰、詳細的圖像,即使是最小的特征也顯得清晰清晰。WT-2010D設備還包括先進的成像系統。150萬像素的CCD相機和成像板能夠記錄多達10,000像素/秒。這使設備能夠以極其精細的細節捕捉小規模特征的詳細圖像。然後通過自動全步驟特征檢查工具處理從成像機中收集的數據。此資產處理並分析可能存在的任何異常、缺陷或畸形的圖像。此型號的輸出提供了在21英寸液晶液晶顯示器上可看到的樣本的實時快照。為了確保從設備收集到的數據一致和準確,SEMILAB/SDI WT-2010D系統包括一整套功能強大的軟件。該軟件包括圖像和數據比較工具、統計和圖形工具、自動處理功能以及分析實用程序。所有這些組件使用戶能夠快速輕松地識別樣品材料中的任何缺陷或差異。總之，SDI WT-2010D裝置是一種易於使用、精確度高的成像機，專門設計用於高效的掩模和晶片檢查。SEMILAB WT-2010D模型及其X-Y掃描階段、三光光學工具、強大的成像資產和全面的軟件套件,為檢查和分析這些材料的小規模特征提供了全面的手段。