二手 SEMITEST Epimet II #293646413 待售
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SEMITEST Epimet II是半導體工業的掩模和晶圓檢驗設備。它提供各種晶片和薄膜的自動化檢查、質量檢查和計量。該系統旨在優化產品的精度和質量。該設備利用先進的掃描電子顯微鏡（SEM）技術對晶片和薄膜進行高分辨率的檢測和質量控制。它設計用於檢查薄到幾微米的材料。Epimet II配備了一系列先進的探測器，包括反向散射探測器、二次電子探測器和微焦點X射線探測器，可實現最大分辨率。該機集成了先進的定位和樣品操作能力，使用戶能夠準確查看、測量和檢查晶片和薄膜的特征。集成級可實現快速、準確的樣品定位,同時提供充足的工作負載能力。SEMITEST Epimet II還融合了先進的數字圖像處理算法廣泛的圖像分析功能。這使用戶能夠使用實時、數字捕獲和顯示功能輕松識別和測量缺陷和異常。該工具還包括便於用戶使用的軟件工具,這些工具能夠檢查整個晶圓表面,並使用戶能夠最大程度地準確地識別、分類和測量缺陷。該資產還提供了用於過程控制、質量測試和計量任務的功能。集成的計量功能使用戶能夠準確測量晶圓厚度、表面地形以及其他相關信息。此外，該模型能夠精確測量三維特征，並能夠獲取聚焦離子束的圖像。此外，Epimet II提供多種診斷和測試，包括泄漏電流、掩模檢查和分析、模具尺寸驗證、應力測量、電氣測試模式、掃描速度測量等等。這些測試確保了產品的一致性和質量,並有助於簡化開發和制造過程。總體而言，SEMITEST Epimet II是一種先進的晶圓和薄膜檢測設備，旨在最大限度地提高準確性、質量和生產率。Epimet II憑借其先進的探測器、定位和樣品處理能力、數字圖像處理以及集成的計量功能，為半導體行業提供了強大的解決方案。
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