二手 SEMITEST Epimet II #9105435 待售

SEMITEST Epimet II是一種用於對所有類型的光刻圖樣進行多層次分析的掩模和晶圓檢測設備。該系統包括高級光學配置選項,並提供高分辨率成像和算法特征識別。Epimet II的主要成分是光學顯微鏡和一個控制單元。光學顯微鏡使用激光照明捕獲圖樣的圖像，並以數字格式收集。該單元提供的物鏡允許不同的放大倍數，以更高的細節來評估圖樣。控制單元用於分析圖樣圖像。它包含高速處理、高級算法識別功能，能夠提供實時分析。控制單元可用於將圖樣與參考圖像進行比較，測量線寬和線間間距等特征，檢測缺陷，識別潛在屈服問題。除了圖像分析，SEMITEST Epimet II可以用於自動晶圓測試。該機可配備接觸和非接觸傳感器，如光譜橢圓偏光計，以測量晶圓的電學和光學特性。這允許在生產過程中進行測試,以便在完成之前發現任何潛在的問題。Epimet II提供了準確、快速、可靠的掩模和晶圓檢測工具。它提供了一個高度自動化的過程來檢測潛在的缺陷和產生問題的模式晶片。該資產允許對圖樣樣本進行多層次分析,並提供有關樣本特征和屬性的詳細反饋,以便進行準確評估。