二手 SEMITEST Epimet II #9193399 待售

SEMITEST Epimet II是一個功能強大、自動化的掩模和晶片檢查系統，旨在快速準確地識別半導體掩模和晶片中的兩個缺陷。通過將復雜的圖像處理算法與多波長的亮場和暗場成像結合起來，Epimet II提供了對這些關鍵元素的詳細、高分辨率的檢查。SEMITEST Epimet II利用附著在精密機械臂上的高清成像傳感器，能夠掃描整個掩模和晶圓表面。成像傳感器在可見光譜、近紅外光譜和深紫外光譜中采集亮場和暗場數據。然後，自動手臂穿過一個標本，使系統能夠以多種分辨率捕捉數以千計的標本角度視圖。總體而言,Epimet II提供了卓越的圖像清晰度和對比度,可以準確識別缺陷。立即分析收集到的數據的缺陷級別（包括劃痕、空隙和汙染物）,並在幾秒鐘內提供詳細結果。用戶友好的系統界面允許在生產線上同時檢查所有掩碼和晶片,並向操作員發出可能發生的任何潛在缺陷的警報。SEMITEST Epimet II是半導體制造商的強大工具，能夠顯著減少生產時間，同時為每個掩模和晶圓提供高精度檢查。通過利用最新的圖像分析技術,Epimet II可以自動識別人工過程所需時間的一小部分缺陷。SEMITEST Epimet II具有用戶友好的界面和快速的分析時間,可確保每一個掩模和晶片都做好生產準備。