二手 SLD FGN-20 #9201063 待售

SLD FGN-20是一種全自動掩模和晶圓檢測設備，旨在為半導體領域提供卓越的精度和可靠性。該系統采用先進的光學成像和算法，能夠檢測到0.1 μ m-0.5 μ m的缺陷。它的SLD型技術能夠檢測不同類型的樣品，如小觸點、盲孔和低K電介質。FGN-20采用高分辨率CCD相機，靈敏度足以檢測組合偽焦鏡頭組的最小缺陷和其他特性。它使用強大的圖像處理軟件進行處理,以便從手動選擇的操作中檢查和識別每一個缺陷。該單元的High-Dynamic Range （HDR）甚至可以識別出最困難的缺陷，使其適合廣泛的使用應用。機器的TAP虛擬檢查工具設計用於檢查圖案化布局層，還提供高靈敏度激光圖樣檢查。它使用了多種高級圖像分析算法。該工具具有很高的準確性和可重復性,確保每個被檢查的樣品都符合最高標準,每次都能提供可靠的結果。SLD FGN-20還提供了報告和數據管理功能,例如缺陷列表、3D測量以及其他可用於各種應用程序的報告。它還提供在線測量,包括實時視圖樣本檢查和全自動SAM審查（FASR）,從而能夠自動測量所有關鍵缺陷。該資產設計方便用戶，便於操作和維護，不影響測量精度。它還包括用於定制需求的特定功能以及用於樣品和設備的專用或專用區域。高性能數據分析模型對每個樣本執行分析,並自動警告發現的任何缺陷。總體而言，FGN-20是一個可靠和準確的設備，用於檢查口罩和晶片。其先進的光學成像技術、圖像處理軟件和各種功能使其適合任何類型的應用。它易於操作和維護,並提供各種報告和數據管理功能。