二手 SLD FGN-20 #9268535 待售
網址複製成功!
SLD FGN-20 Mask&Wafer Inspection Equipment是一種自動化系統,旨在檢查Mask和Wafer。憑借其高性能的光學、先進的算法和最先進的視覺處理,該設備能夠快速、準確地檢查掩模和晶片。這臺機器首先拍攝了一張面罩和晶片的上遊圖像,記錄在其集成的500萬像素數碼相機上。然後通過復雜的模式識別算法對圖像進行分析,以便檢測掩模和晶片中的任何缺陷和異常。檢測到缺陷或異常後,該工具將提供一個集成的3D顯示,其中包含缺陷在全面缺陷映射中的精確位置。資產還能夠提供擴展的圖像處理功能,例如在圖像上應用彩色濾鏡或在監視器上提高信號,以進一步幫助識別缺陷的位置。FGN-20能夠檢測到口罩和晶片上的各種缺陷和異常,包括劃痕、凹坑和斑點。它還能夠檢測顏色變化,以避免來自非缺陷的錯誤警報。此外,該模型允許用戶調整設備的靈敏度,以便檢測不同類型的缺陷和異常。集成軟件包使用戶能夠輕松管理檢查過程,同時使他們能夠訪問詳細數據並上傳檢查結果。這些數據可用於分析和改進以後的檢查和生產過程。此外,SLD FGN-20可以很容易地與其他光學檢查系統集成在一起,從而進一步提高過程的準確性和可靠性。總體而言,FGN-20掩模和晶片檢驗系統是一個先進的自動化裝置,旨在促進快速、高效的掩模和晶片檢驗過程。利用其高效的算法和精密的圖像處理,能夠快速準確地檢測各種類型的缺陷和異常。它的集成軟件包使得管理檢查過程和訪問詳細數據變得容易。再者,機器很容易與其他光學檢查系統集成,讓用戶在生產和檢查過程中進一步提高精度和可靠性。
還沒有評論