二手 TAYLOR HOBSON PGI 840 #9397839 待售

TAYLOR HOBSON PGI 840是一種先進的自動化掩模和晶片檢測設備，設計用於檢測半導體晶片和掩模上的缺陷。該系統能夠檢查直徑達200毫米的晶片和尺寸達8英寸的掩模。PGI 840有一個全自動的控制單元和定制的軟件包，旨在確保檢查過程的準確性和可靠性。它有幾種檢查模式和各種設置，可以定制以滿足特定的客戶要求。該機器利用強大的透鏡工具檢查晶片和掩模是否有缺陷。鏡片資產可以檢測到尺寸低至0.1微米的缺陷。然後將晶片和掩模圖像傳輸到大型圖像監視器,在此可以對其進行查看和分析。TAYLOR HOBSON PGI 840還具有強大的缺陷分類模型，能夠準確分類缺陷類型和大小。此功能允許更高效、更準確的檢查過程。該設備還具有一個廣泛的缺陷類型和大小數據庫，可用於幫助檢測和分析缺陷。該數據庫還可用於開發實驗，並對特定過程和程序的指令進行標準化。除了檢查能力外，PGI 840還提供多種分析功能。該系統能夠進行間隙測量和模界掃描，檢測均勻性缺陷，分析缺陷分布。TAYLOR HOBSON PGI 840是一個高度先進的掩模和晶圓檢驗單元，旨在在檢驗過程中提供高精度和可靠性。其廣泛的特性和功能使其成為尋找自動檢測機器的半導體公司的理想選擇。