二手 TKK MAC-110MV1 #9375009 待售

TKK MAC-110MV1
ID: 9375009
Overlay measurement systems.
TKK MAC-110MV1是由TKK Corporation設計的最先進的面膜和晶圓檢測設備。具有基於攝像頭的高分辨率成像系統以及專有的軟件算法,可快速準確地檢測和分析缺陷,MAC-110MV1提供卓越的質量保證和控制。TKK MAC-110MV1利用先進的圖像采集技術和廣光光學變焦顯微鏡深入了解晶圓或掩模的微觀地形。該設備的廣泛功能包括無工具可調LED光源、可選的偏振和對比度,以及用於圖像校正和增強的基於軟件的濾鏡選項。所有組件都安裝在堅固的框架中,並帶有可鎖定的腳輪,便於操作和運輸。對於圖像采集MAC-110MV1使用5兆像素高清相機,允許在一次25秒長的操作中捕獲近1000個晶圓的個體特性。其專用任務專用軟件包包括自動晶圓檢測、自動模式識別和精確缺陷分類。TKK MAC-110MV1生成的所有數據都可以在服務器或客戶端PC上遠程存儲和分析。為了確保樣品安全和可生產的檢驗結果,根據晶圓的個別特性,提供了許多優化圖像采集和對準參數的設置。此外,機器可以與多種垂直發射級相結合,以容納不同厚度的晶圓或掩模。MAC-110MV1能夠檢測和區分小(亞微米)和大(超微米)缺陷以及微小微粒。三維函數可用於精確測量多層晶片上的缺陷。其直觀的用戶界面使操作員能夠快速配置成像設置,如相機增益、光圈、對比度、清晰度和圖像放大。此外,該工具還可以對整體模式、晶圓大小和檢測到的缺陷數量進行統計分析。TKK MAC-110MV1是集成電路組件制造中線內、線外質量控制的理想解決方案。由於其先進的特點和創新的技術,它是一個行業領先的面膜和晶圓檢查。
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