二手 TKK MAC-110MV1 #9375010 待售

TKK MAC-110MV1
ID: 9375010
Overlay measurement systems.
TKK MAC-110MV1是一種面罩和晶圓檢測設備,設計用於電子制造和微機械加工的質量控制。它是一種通用工具,可用於集成電子元件、光掩模和半導體晶片等多種應用。該系統結合了光學和機械兩種方法,實現了準確可靠的檢測。該單元配有高分辨率相機和視覺機,生成的圖像由強大的圖像處理軟件處理,快速、精確地檢測問題。可變放大倍率允許檢查小到納米的特征。該工具還具有自動階段校準、失真校正和自動對準功能。MAC-110MV1配備了從5 X到1000X的多個數字和模擬放大倍數。這有助於捕獲晶圓或封裝表面上最小和最復雜的特征。此外,可調節的鏡頭對齊方法有助於準確對齊每張圖像並確保精確的圖像捕獲。該資產還提供了多種圖像模式,旨在滿足多種質量控制要求。這些圖像模式包括薄膜圖樣、金屬化深度、表面分離和功能層分析。該型號可靠性高,采用觸摸屏和電極敏感表面,操作方便。此外,尖端的光學和機械元件提供高精度的結果。最後,該設備采用集成庫設計,可與其他分析系統共享,保證了結果的兼容性。總之,TKK MAC-110MV1提供了一個全面的質量控制和檢驗系統,非常適合廣泛的設備和微加工應用。該單元先進的光學和機械組件以及可定制的圖像模式保證了精確和可靠的檢查,並以最小的努力。
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