二手 TKK MAC-110MV1 #9399122 待售

TKK MAC-110MV1
ID: 9399122
Overlay measurement systems.
TKK MAC-110MV1是半導體制造業的高性能掩模和晶圓檢測設備。它設計用於檢查掩模缺陷和晶片表面顆粒,如灰塵或碎屑顆粒。該系統專門設計用於從背面照明和復雜電路模式中有效檢查晶片和掩碼。MAC-110MV1具有一個成像單元,該成像單元由集成的二維攝像機和雙體投影機提供動力。該工具能夠提供高分辨率的成像,具有高度的準確性和可重復性。先進的自動對焦調整和高速自動對焦跟蹤進一步增強了成像能力。這使得資產能夠快速輕松地準確地聚焦目標區域。此外,該模型還提供靜態和動態圖像捕獲功能,從而提高了檢查的靈活性。TKK MAC-110MV1能夠檢測口罩和晶片中的各種缺陷和顆粒。這些包括金屬顆粒、劃痕、裂紋和其他視覺缺陷。該設備還提供了多種檢查模式,包括手動、半自動和自動檢查,以及各種放大設置,以便進行更詳細的分析。該系統配備了直觀易用的圖形界面。這種用戶友好的設計確保用戶能夠快速了解設備的特性和功能。此外,該機器還具有實時圖像處理和圖像分析功能,能夠快速準確地進行分析。此外,該工具還具有強大的數據記錄功能,可以進行詳細和長期的分析。即使在極端條件下,MAC-110MV1也是為可靠和一致的性能而設計的。該資產是為在-20°C至+60°C的溫度下達到峰值性能而設計的,最大檢查周期率為每秒60幀。此外,該型號還配備了集成的安全功能,包括過壓保護和溫度傳感器等安全裝置。最後,TKK MAC-110MV1易於安裝和維護,從而減少了停機時間和維修成本。該設備由一組訓練有素的服務技術人員提供支持,他們能夠提供安裝、故障排除和維修方面的幫助。此外,該系統還有大量備件和附件支持。
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