二手 TKK MAC-110MV1 #9399123 待售

TKK MAC-110MV1
ID: 9399123
Overlay measurement systems.
TKK MAC-110MV1是一種自動化的掩模和晶片檢查設備,旨在有效地檢查制造的掩模和晶片。該系統配備了圖像采集單元、圖像分析機和高速處理工具。圖像采集資產利用兩種成像模式,即RGB和1000X光學,能夠快速、精確地成像蒙版或晶片上存在的圖樣或缺陷。圖像分析模型對獲得的圖像應用了多種算法和濾波器,以快速識別任何缺陷。高速搬運設備隨後取出有缺陷的口罩和晶片進行後期生產檢查。該系統能夠執行各種檢查任務,包括晶圓檢查和缺陷識別、掩模圖樣登記、圖樣質量評估。它可以檢查異物、劃痕、受汙染的口罩、圖案放置精度等等。它還具有實時自動缺陷檢測和分類功能,並能夠導出檢測到的缺陷的詳細信息。MAC-110MV1配有直觀的軟件界面,便於操作和定制檢查參數和設置。它還可以與晶圓曝光系統和掩模曝光系統結合使用,從而實現同時制圖、曝光和檢查。該單元還設計用於易於安裝和維護,具有可更換的組件,用於快速維修和定期維護。TKK MAC-110MV1能夠執行廣泛的重要檢查任務,從而提高質量控制。它速度快、效率高,能夠快速檢查大量的口罩和晶片。精確成像和高級分析算法的結合有助於確保一致的準確性。堅固的設計和可更換的組件也使這臺機器非常適合在工業生產環境中擴展使用。
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