二手 TKK MAC-92MV1 #9375008 待售

TKK MAC-92MV1是為高精度測量而設計的先進的掩模和晶圓檢測設備。它能夠檢測最小尺寸為3微米、最大直徑為6英寸的晶片。該系統利用了多種先進的成像技術，包括電荷耦合器件（CCD）、特殊光學元件和光學顯微鏡。MAC-92MV1提供多種成像模式,包括亮場模式、暗場模式和反射模式,使用戶可以獲得最高級別的圖像分辨率、對比度和景深。通過將最先進的圖像處理算法與先進的光學技術相結合，該單元能夠以高度的精度和可重復性捕獲不同半導體結構的高質量圖像。該機包括光學顯微鏡、光刻軟件、計算機控制面板和自動檢查階段。顯微鏡使用圖像強化技術來增強非常小物體的圖像，並允許更詳細的成像。光刻軟件允許用戶創建可直接打印到晶圓上的自定義光掩碼。計算機控制面板提供了一個簡化的界面，用於在檢查過程中控制晶圓的軌跡。而且，自動檢查階段允許對晶圓上的大小特征進行精確的測量。TKK MAC-92MV1還包括內置特征識別工具和傅立葉變換圖像處理器。前者可以根據用戶設置的規則根據特定標準識別晶片上的特征。傅立葉變換圖像處理器提高圖像分辨率，提供更準確的結果。總體而言，MAC-92MV1是一個先進和穩健的掩模和晶圓檢查資產，提供了卓越的準確性和可重復性。憑借其多種成像模式、強大的圖像處理算法和自動檢測階段，該模型能夠對最先進的應用以極高的精度準確可靠地測量半導體特性。